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微粒表面塵埃粒子理化分析儀

更新時(shí)間:2025-04-10

簡要描述:

微粒表面塵埃粒子理化分析儀QIIISM 是一款用于測量和檢測機(jī)臺表面微粒子SPD的精密儀器,它采用目前的技術(shù)來實(shí)現(xiàn)量測的精確性和機(jī)臺的穩(wěn)
定性。人的肉眼很難看清直徑在 100um 以下的粒子,這些粒子會(huì)快速沉降,逃
避常規(guī)的空氣檢測從而聚積在關(guān)鍵表面或產(chǎn)品上,從而減少產(chǎn)品的良率及降低產(chǎn)
品的穩(wěn)定性,QIII SM 表面粒子檢測器測量(0.3~10um)的粒子

型號:QIII SM點(diǎn)擊量:196

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微粒表面塵埃粒子理化分析儀QIIISM 是一款用于測量和檢測機(jī)臺表面微粒子SPD的精密儀器,它采用目前的技術(shù)來實(shí)現(xiàn)量測的精確性和機(jī)臺的穩(wěn)

定性。人的肉眼很難看清直徑在 100um 以下的粒子,這些粒子會(huì)快速沉降,逃

避常規(guī)的空氣檢測從而聚積在關(guān)鍵表面或產(chǎn)品上,從而減少產(chǎn)品的良率及降低產(chǎn)

品的穩(wěn)定性,QIII SM 表面粒子檢測器測量(0.3~10um)的粒子,對于生產(chǎn)環(huán) 境的控制,提升產(chǎn)品的良率都起到了很大的作用,能夠 幫助企業(yè)更快捷的實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)化管理

BENEFITS 快速測量表面顆粒 可以幫忙控制機(jī)臺產(chǎn)品上的顆粒物從而提高產(chǎn)量 通過快速識別粒子源,減少故障排除時(shí)間 可以監(jiān)測物料,來料,以及Parts上的Particle 減少PM的周期 符合 ISO 14644-9表面粒子操作規(guī)范 減少粒子相關(guān)故障  QIII SMTM SIDE VIEW 表面塵埃粒子理化分 析儀 0.3-10um 微粒表面塵埃粒子理化分析儀QIII SM orp.c Particle 測量范圍: 0.3um -10um  粒徑通道: 0.3, 0.5, 1.0, 3.0, 5.0, 10.0um  激光源: 鐳射激光 尺寸 & 重量: 30.5cm X 26.7cmX 22.9cm, 8.4 公斤 電池:2塊可熱插拔鋰電池 顯示: 7" 英寸WVGA觸摸屏 數(shù)據(jù)顯示: /平方厘米,/平方英寸,可智能分析測試數(shù)據(jù)平均值 數(shù)據(jù)輸出: USB,以太網(wǎng), WiFi(選配) 探頭包含: ?" 英寸直角探頭. 輸入功率: 100-240 VAC, 50/60 hz 取樣模式: 靜態(tài)取樣和動(dòng)態(tài)取樣 CE認(rèn)證 語言: 英語, 中文, 日文, 韓文 美國制造

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